Название:Экспериментальный и теоретический анализ трехволновой дифракции в сильнонарушенных эпитаксиальных системах
Грантодатель:РФФИ
Область знаний:02 ФИЗИКА И АСТРОНОМИЯ
Научная дисциплина:2-211 Взаимодействие рентгеновского, синхротронного излучений и нейтронов с конденсированным веществом 02-204 Поверхность и тонкие пленки 02-205 Нано- и микроструктуры
Ключевые слова:Рентгеновская дифракция, трехволновая дифракцмя, пики Реннингера, кристаллы, поверхностные слои, дислокации, кинематическая теория
Тип:исследовательский
Руководитель(и):Ратников,ВВ
Подразделения:
Код проекта:16-02-00702 А
Финансирование 2016-18 г.:2 100 000
Исполнители: Кютт,РН: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС)
Щеглов,МП: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС)
Калмыков,АЕ: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС)
Мясоедов,АВ: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС)
Антонова,ТМ: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС)
Аргунова,ТС: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС)
На основе предварительных чисто экспериментальных измерений трехволновых пиков по схеме Реннингера в эпитаксиальных пленках III-ниридов был установлен ряд эмпирических закономерностей поведения трехволноой дифракции в сильно искаженных структурах. Многие из них не получили должного физического объяснения. В настоящей работе будет выполнен более всеобъемлющий анализ, включая в себя на только новые эмпирические наблюдения, но и физическую и теоретическую трактовку свойств трехволновой дифракционной картины. В частности, теоретическое рассмотрение будет основано на предлагаемой обобщенной трактовке геометрической теории окольного возбуждения Реннингера, учитывающей форму узлов обратной решетки, связанной с конкретными системами дислокаций. Предполагаются также измерения флюоресцентного излучения, а также рентгенотопографические и электронно-микроскопические исследования дефектов, влияющих на картину трехволновой дифракции.